Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Electron Beam Testing Technology

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 406 bodov

Anotácia knihy

This is the first comprehensive volume on electron beam testing for integrated circuits. Including introductory material, a guide to fundamentals, and an implementational section, the work will serve as a complete reference for both experienced practitioners as well as those unfamiliar with the technology.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Mathematics & science Physics Materials / States of matter

• Celý názov: Electron Beam Testing Technology
• Autor: John T.L. Thong
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Pevná
• Počet strán: 462
• EAN: 9780306443602
• ISBN: 0306443600
• ID: 01378051
• Nakladateľ: Springer Science+Business Media
• Hmotnosť: 2500 g
• Rozmery: 254 × 178 × 27 mm
• Dátum vydania: 31. July 1993

Obľúbené z iného súdka

---

---

---