Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 438 bodov

Anotácia knihy

Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques for digital CMOS applications.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Books in English Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Celý názov: Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
• Autor: Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Pevná
• Počet strán: 373
• EAN: 9781441993762
• ISBN: 1441993762
• ID: 01424507
• Nakladateľ: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnosť: 776 g
• Rozmery: 235 × 155 × 27 mm
• Dátum vydania: 28. August 2011

Obľúbené z iného súdka

---

---

---