Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o Advances in X-Ray Analysis

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 603 punkty

Opis

The 37th Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held August 1-5, 1988, at the Sheraton Steamboat Resort and Conference Center, Steamboat Springs, Colorado. As usual, alternating with x-ray diffraction, the emphasis this year was x-r

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Mathematics & science Physics Classical mechanics

• Pełny tytuł: Advances in X-Ray Analysis
• Podtytuł: Volume 29
• Autor: Charles S. Barrett, jerome B. Cohen, Jr., John Faber, Ron Jenkins
• Język: Angielski
• Oprawa: Twarda
• Liczba stron: 600
• EAN: 9780306422874
• ISBN: 0306422875
• ID: 01376811
• Wydawca: Springer Science+Business Media
• Waga: 2310 g
• Wymiary: 234 × 156 × 38 mm
• Rok wydania: 2007

Ulubione w innej kategorii

---

---

---