Kod: 44414887
Place and Parametricism: Critical, Archival and Digital Approaches to Contemporary Design
Zobacz książki o podobnej tematyce
Podaruj tę książkę jeszcze dziś
- Zamów książkę i wybierz "Wyślij jako prezent".
- Natychmiast wyślemy Ci bon podarunkowy, który możesz przekazać adresatowi prezentu.
- Książka zostanie wysłana do adresata, a Ty o nic nie musisz się martwić.
Dowiedz się więcej
Powiadomienie o dostępności
Więcej informacji o Place and Parametricism: Critical, Archival and Digital Approaches to Contemporary Design
Za ten zakup dostaniesz 380 punkty
Szczegóły książki
Kategoria
Książki po niemiecku
Geisteswissenschaften, Kunst, Musik
Kunst
Innenarchitektur, Design
- Pełny tytuł: Place and Parametricism: Critical, Archival and Digital Approaches to Contemporary Design
- Autor: Gini Lee, Jeff Malpas
- Język: Angielski
- Oprawa: Twarda
- Liczba stron: 320
- EAN: 9781350329980
- ISBN: 1350329983
- ID: 44414887
- Wydawca: BLOOMSBURY VISUAL ARTS
- Waga: 454 g
- Wymiary: 234 × 156 × 25 mm
- Data wydania: 19. September 2024