Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 366 punkty

Opis

The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution. The intelligent use of this instrument requires knowledge from many distinct fields of s

Szczegóły książki

Kategoria Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Technology: general issues Nanotechnology

• Pełny tytuł: Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
• Autor: Ronald G. Reifenberger
• Język: Angielski
• Oprawa: Twarda
• Liczba stron: 340
• EAN: 9789814630344
• ISBN: 9789814630344
• ID: 03611606
• Wydawca: World Scientific Publishing
• Waga: 614 g
• Wymiary: 238 × 158 × 23 mm
• Data wydania: 12. November 2015

Ulubione w innej kategorii

---

---

---