Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Data Mining and Diagnosing IC Fails

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 265 bodov

Anotácia knihy

There are many techniques for analyzing IC fails. This book addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Celý názov: Data Mining and Diagnosing IC Fails
• Autor: Leendert M. Huisman
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Pevná
• Počet strán: 250
• EAN: 9780387249933
• ISBN: 9780387249933
• ID: 07184089
• Nakladateľ: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnosť: 576 g
• Rozmery: 235 × 155 × 19 mm
• Dátum vydania: 21. June 2005

Obľúbené z iného súdka

---

---

---