High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography / Najlacnejšie knihy
High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Kód: 06695007

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Autor B. K. Tanner

The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. I ... celý popis

264.37 €


Skladom u dodávateľa
Odosielame za 9 - 15 dní
Pridať medzi želanie

Mohlo by sa vám tiež páčiť

Darčekový poukaz: Radosť zaručená
  1. Darujte poukaz v ľubovoľnej hodnote, a my sa postaráme o zvyšok.
  2. Poukaz sa vzťahuje na všetky produkty v našej ponuke.
  3. Elektronický poukaz si vytlačíte z e-mailu a môžete ho ihneď darovať.
  4. Platnosť poukazu je 12 mesiacov od dátumu vystavenia.

Objednať darčekový poukazViac informácií

Viac informácií o knihe High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Nákupom získate 640 bodov

Anotácia knihy

The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. It provides the background for applying these techniques.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Mathematics & science Physics Optical physics

264.37 €

Obľúbené z iného súdka

O tomto obchode



Nákupný poradca
Prehľady
Knihy podľa jazyka
Platba
Doručenie 2.99 €

Osobný odber Bratislava a 12744 dalších

Slovensko
България Hrvatska România Magyarország Polska Česko

Copyright ©2008-26 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies

Môj účet: Prihlásiť sa
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupný košík ( prázdny )

Vyzdvihnutie v Zásielkovni
zadarmo nad 59,99 €.

Nachádzate sa: