Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Interfacial Compatibility in Microelectronics

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 530 bodov

Anotácia knihy

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.§

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Industrial chemistry & manufacturing technologies Other manufacturing technologies

• Celý názov: Interfacial Compatibility in Microelectronics
• Podnázov: Moving Away from the Trial and Error Approach
• Autor: Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel, Markus Turunen
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Brožovaná
• Počet strán: 218
• EAN: 9781447160687
• ISBN: 1447160681
• ID: 02481545
• Nakladateľ: Springer London Ltd
• Hmotnosť: 355 g
• Rozmery: 235 × 155 × 13 mm
• Dátum vydania: 22. February 2014

Obľúbené z iného súdka

---

---

---