Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 1025 bodov

Anotácia knihy

This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon. Besides compiling the structures, energetic properties, identified electrical levels and spectroscopic signatures, and the diffusion behaviour from investigations, it gives a comprehensive introduction into the relevant fundamental concepts.§

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Mathematics & science Chemistry Analytical chemistry

• Celý názov: Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
• Autor: Peter Pichler
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Brožovaná
• Počet strán: 554
• EAN: 9783709172049
• ISBN: 3709172047
• ID: 02647210
• Nakladateľ: Springer Verlag GmbH
• Hmotnosť: 1104 g
• Rozmery: 254 × 178 × 32 mm
• Dátum vydania: 01. November 2012

Obľúbené z iného súdka

---

---

---