Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology / Najlacnejšie knihy
Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

Kód: 12446872

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

Autor David C. Cox

This book describes modern focused ion beam microscopes and techniques and how they can be used to aid materials metrology and as tools for the fabrication of devices that in turn are used in many other aspects of fundamental metr ... celý popis

128.56 €


Skladom u dodávateľa
Odosielame za 14 - 18 dní
Pridať medzi želanie

Mohlo by sa vám tiež páčiť

Darčekový poukaz: Radosť zaručená
  1. Darujte poukaz v ľubovoľnej hodnote, a my sa postaráme o zvyšok.
  2. Poukaz sa vzťahuje na všetky produkty v našej ponuke.
  3. Elektronický poukaz si vytlačíte z e-mailu a môžete ho ihneď darovať.
  4. Platnosť poukazu je 12 mesiacov od dátumu vystavenia.

Objednať darčekový poukazViac informácií

Viac informácií o knihe Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

Nákupom získate 318 bodov

Anotácia knihy

This book describes modern focused ion beam microscopes and techniques and how they can be used to aid materials metrology and as tools for the fabrication of devices that in turn are used in many other aspects of fundamental metrology.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Technology: general issues Instruments & instrumentation engineering

128.56 €

Obľúbené z iného súdka

O tomto obchode



Nákupný poradca
Prehľady
Knihy podľa jazyka
Platba
Doručenie 2.99 €

Osobný odber Bratislava a 2642 dalších

Slovensko
България Hrvatska România Magyarország Polska Česko

Copyright ©2008-24 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies

Môj účet: Prihlásiť sa
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupný košík ( prázdny )

Vyzdvihnutie v Zásielkovni
zadarmo nad 59,99 €.

Nachádzate sa: