Materials Processing Using Plasma Focus / Najlacnejšie knihy
Materials Processing Using Plasma Focus

Kód: 06834881

Materials Processing Using Plasma Focus

Autor Muhammad Hassan

The present research work reports the parametric study of ion beams emitted from two different Mather type plasma focus devices and their utilization in materials processing. Experiments have been conducted by using a conventional ... celý popis

68.98

Bežne: 71.79 €

Ušetríte 2.81 €


U vydavateľa na objednávku
Odosielame za 17 - 27 dní
Pridať medzi želanie

Mohlo by sa vám tiež páčiť

Darčekový poukaz: Radosť zaručená
  1. Darujte poukaz v ľubovoľnej hodnote, a my sa postaráme o zvyšok.
  2. Poukaz sa vzťahuje na všetky produkty v našej ponuke.
  3. Elektronický poukaz si vytlačíte z e-mailu a môžete ho ihneď darovať.
  4. Platnosť poukazu je 12 mesiacov od dátumu vystavenia.

Objednať darčekový poukazViac informácií

Viac informácií o knihe Materials Processing Using Plasma Focus

Nákupom získate 167 bodov

Anotácia knihy

The present research work reports the parametric study of ion beams emitted from two different Mather type plasma focus devices and their utilization in materials processing. Experiments have been conducted by using a conventional 2.3 kJ UNU/ICTP plasma focus device and the NX2 device (a repetitive plasma focus). The ion parameters such as energy, energy distribution, number density and current density are evaluated in the ambient gas pressure by employing a BPX65 photodiode and a Faraday cup (FC) using time of flight technique. A major motivation is to establish the optimum processing conditions for ion nitriding, surface modification, phase changes and carburizing of materials of industrial interest like Ti, AlFe1.8Zn0.8 alloy and SS-321 in plasma environment. The processed samples are characterized for structural and morphological changes, compositional profile and surface hardness by employing XRD, SEM FESEM, EDX, XPS, Raman spectroscopy and Vickers microhardness test. The SRIM code and microindentation measurements are used to estimate the depth profile of the modified layers.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Mathematics & science Physics

68.98

Obľúbené z iného súdka



Osobný odber Bratislava a 12790 dalších

Copyright ©2008-26 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies


Môj účet: Prihlásiť sa
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupný košík ( prázdny )

Vyzdvihnutie v Zásielkovni
zadarmo nad 59,99 €.

Nachádzate sa: