Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 / Najlacnejšie knihy
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

Kód: 02439136

Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

Autor Kenneth P. Rodbell, William F. Filter, Harold J. Frost, Paul S. Ho

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

36.44


Skladom u dodávateľa
Odosielame za 9 - 15 dní
Pridať medzi želanie

Mohlo by sa vám tiež páčiť

Darčekový poukaz: Radosť zaručená
  1. Darujte poukaz v ľubovoľnej hodnote, a my sa postaráme o zvyšok.
  2. Poukaz sa vzťahuje na všetky produkty v našej ponuke.
  3. Elektronický poukaz si vytlačíte z e-mailu a môžete ho ihneď darovať.
  4. Platnosť poukazu je 12 mesiacov od dátumu vystavenia.

Objednať darčekový poukazViac informácií

Viac informácií o knihe Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

Nákupom získate 88 bodov

Anotácia knihy

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Mechanical engineering & materials Materials science

36.44

Obľúbené z iného súdka



Osobný odber Bratislava a 12542 dalších

Copyright ©2008-26 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies


Môj účet: Prihlásiť sa
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupný košík ( prázdny )

Vyzdvihnutie v Zásielkovni
zadarmo nad 59,99 €.

Nachádzate sa: