Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Microelectronic Reliability

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 436 bodov

Anotácia knihy

A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering

• Celý názov: Microelectronic Reliability
• Autor: Emiliano Pollino
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Pevná
• Počet strán: 556
• EAN: 9780890063507
• ISBN: 9780890063507
• ID: 05357937
• Nakladateľ: Artech House Publishers
• Hmotnosť: 982 g
• Rozmery: 229 × 152 × 34 mm
• Dátum vydania: 01. April 1989

Obľúbené z iného súdka

---

---

---