Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light / Najlacnejšie knihy
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Kód: 13595194

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Autor Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized ... celý popis

158.94

Bežne: 165.61 €

Ušetríte 6.66 €


Skladom u dodávateľa v malom množstve
Odosielame za 11 - 15 dní

Potrebujete viac kusov?Ak máte záujem o viac kusov, preverte, prosím, najprv dostupnosť titulu na našej zákazníckej podpore.


Pridať medzi želanie

Mohlo by sa vám tiež páčiť

Darčekový poukaz: Radosť zaručená
  1. Darujte poukaz v ľubovoľnej hodnote, a my sa postaráme o zvyšok.
  2. Poukaz sa vzťahuje na všetky produkty v našej ponuke.
  3. Elektronický poukaz si vytlačíte z e-mailu a môžete ho ihneď darovať.
  4. Platnosť poukazu je 12 mesiacov od dátumu vystavenia.

Objednať darčekový poukazViac informácií

Viac informácií o knihe Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Nákupom získate 384 bodov

Anotácia knihy

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Mechanical engineering & materials Materials science

158.94

Obľúbené z iného súdka



Osobný odber Bratislava a 12744 dalších

Copyright ©2008-26 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies


Môj účet: Prihlásiť sa
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupný košík ( prázdny )

Vyzdvihnutie v Zásielkovni
zadarmo nad 59,99 €.

Nachádzate sa: