Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics / Najlacnejšie knihy
Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics

Kód: 22568505

Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics

Autor STEVEN WALSTRA

Dissertation Discovery Company and University of Florida are dedicated to making scholarly works more discoverable and accessible throughout the world. This dissertation, "Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Charac ... celý popis

78.01


Skladom u dodávateľa
Odosielame za 14 - 18 dní
Pridať medzi želanie

Mohlo by sa vám tiež páčiť

Darčekový poukaz: Radosť zaručená
  1. Darujte poukaz v ľubovoľnej hodnote, a my sa postaráme o zvyšok.
  2. Poukaz sa vzťahuje na všetky produkty v našej ponuke.
  3. Elektronický poukaz si vytlačíte z e-mailu a môžete ho ihneď darovať.
  4. Platnosť poukazu je 12 mesiacov od dátumu vystavenia.

Objednať darčekový poukazViac informácií

Viac informácií o knihe Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics

Nákupom získate 195 bodov

Anotácia knihy

Dissertation Discovery Company and University of Florida are dedicated to making scholarly works more discoverable and accessible throughout the world. This dissertation, "Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics" by Steven V. Wa

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Energy technology & engineering Electrical engineering

78.01

Obľúbené z iného súdka



Osobný odber Bratislava a 2642 dalších

Copyright ©2008-24 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies


Môj účet: Prihlásiť sa
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupný košík ( prázdny )

Vyzdvihnutie v Zásielkovni
zadarmo nad 59,99 €.

Nachádzate sa: