Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry - A User's Guide

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 576 bodov

Anotácia knihy

While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry. A guide for practitioners and researchers in a variety of disciplines, it addresses a broad range of applications in physics, chemistry, electrical engineering, and materials science.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Mathematics & science Physics Optical physics

• Celý názov: Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry - A User's Guide
• Autor: Harland G. Tompkins, William A. McGahan
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Pevná
• Počet strán: 248
• EAN: 9780471181729
• ISBN: 0471181722
• ID: 04888238
• Nakladateľ: John Wiley & Sons Inc
• Hmotnosť: 516 g
• Rozmery: 163 × 237 × 19 mm
• Dátum vydania: 06. April 1999

Obľúbené z iného súdka

---

---

---