Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization / Najlacnejšie knihy
Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization

Kód: 12371619

Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization

Autor Harland G. Tompkins, James N. Hilfiker

Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of thin films. It is ideally suited for films ranging in thickness from sub-nanometer to several microns. Spectroscopic measurements ha ... celý popis

35.53

Bežne: 47.33 €

Ušetríte 11.80 €


Skladom u dodávateľa
Odosielame za 9 - 15 dní
Pridať medzi želanie

Mohlo by sa vám tiež páčiť

Darčekový poukaz: Radosť zaručená
  1. Darujte poukaz v ľubovoľnej hodnote, a my sa postaráme o zvyšok.
  2. Poukaz sa vzťahuje na všetky produkty v našej ponuke.
  3. Elektronický poukaz si vytlačíte z e-mailu a môžete ho ihneď darovať.
  4. Platnosť poukazu je 12 mesiacov od dátumu vystavenia.

Objednať darčekový poukazViac informácií

Viac informácií o knihe Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization

Nákupom získate 86 bodov

Anotácia knihy

Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of thin films. It is ideally suited for films ranging in thickness from sub-nanometer to several microns. Spectroscopic measurements have greatly expanded the ca

Parametre knihy

35.53

Obľúbené z iného súdka



Osobný odber Bratislava a 12742 dalších

Copyright ©2008-26 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies


Môj účet: Prihlásiť sa
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupný košík ( prázdny )

Vyzdvihnutie v Zásielkovni
zadarmo nad 59,99 €.

Nachádzate sa: