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Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Größenordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Größen wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Rückschlüsse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benötigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sind.

Parametre knihy

• Celý názov: Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik
• Autor: Olaf Schmidt
• Jazyk: Nemčina
• Väzba: Brožovaná
• Počet strán: 96
• EAN: 9783867461948
• ISBN: 3867461945
• ID: 01883725
• Nakladateľ: Examicus Verlag
• Hmotnosť: 136 g
• Rozmery: 210 × 148 × 6 mm
• Dátum vydania: 18. January 2013

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