Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe VLSI Design and Test

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 175 bodov

Anotácia knihy

This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Computing & information technology Computer hardware Network hardware

• Celý názov: VLSI Design and Test
• Podnázov: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
• Autor: Singh Manoj Gaur, Mark Zwolinski, Vijay Laxmi, D. Boolchandani
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Brožovaná
• Počet strán: 388
• EAN: 9783642420238
• ISBN: 3642420230
• ID: 02198670
• Nakladateľ: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
• Hmotnosť: 6088 g
• Rozmery: 235 × 155 × 22 mm
• Dátum vydania: 16. November 2013

Obľúbené z iného súdka

---

---

---