Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 249 bodov

Anotácia knihy

This practical text presents industry-trialed methods for the testing of HSSIs, speeding up testing by a factor of 1000. The testing of both transmission and reception are dealt with in detail, with special emphasis put on performance under injected jitter.§

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Celý názov: Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces
• Autor: YONGQUAN FAN
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Brožovaná
• Počet strán: 194
• EAN: 9789400789739
• ISBN: 9789400789739
• ID: 09070496
• Nakladateľ: Springer
• Hmotnosť: 326 g
• Rozmery: 8 × 173 × 12 mm
• Dátum vydania: 14. October 2014

Obľúbené z iného súdka

---

---

---