Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Advanced Test Methods for SRAMs

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 251 bodov

Anotácia knihy

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SRAM), are presented in this comprehensive guide. New fault models are required for the latest very deep sub-micron (VDSM) technologies, and are outlined here.§

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Celý názov: Advanced Test Methods for SRAMs
• Podnázov: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
• Autor: Girard, Patrick, PH.
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Brožovaná
• Počet strán: 171
• EAN: 9781489983145
• ISBN: 9781489983145
• ID: 09062252
• Nakladateľ: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnosť: 297 g
• Rozmery: 235 × 155 × 235 mm
• Dátum vydania: 03. September 2014

Obľúbené z iného súdka

---

---

---