Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Advanced VLSI Design and Testability Issues

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 152 bodov

Anotácia knihy

This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.

Parametre knihy

• Celý názov: Advanced VLSI Design and Testability Issues
• Autor: Suman Lata Tripathi, Sobhit Saxena, Sushanta Kumar Mohapatra
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Brožovaná
• Počet strán: 360
• EAN: 9780367538361
• ISBN: 0367538369
• ID: 37332130
• Nakladateľ: Taylor & Francis Ltd
• Hmotnosť: 570 g
• Rozmery: 234 × 154 × 35 mm
• Dátum vydania: 15. April 2022

Obľúbené z iného súdka

---

---

---