Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Characterization of Stress in Gan-On-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 172 bodov

Anotácia knihy

Micro-Raman ( Raman) spectroscopy is an e cient, non-destructive techniquewidely used to determine the quality of semiconductor materials and microelectrome-chanical systems. This work characterizes the stress distribution in wurtzite gal-lium nitride grown on c-plane sapphire substrates by molecular beam epitaxy. Thiswide bandgap semiconductor material is being considered by the Air Force ResearchLaboratory for the fabrication of shock-hardened MEMS accelerometers.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Society & social sciences Education

• Celý názov: Characterization of Stress in Gan-On-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy
• Autor: Francisco E Parada
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Brožovaná
• Počet strán: 100
• EAN: 9781288368518
• ISBN: 9781288368518
• ID: 08247026
• Nakladateľ: Biblioscholar
• Hmotnosť: 195 g
• Rozmery: 246 × 189 × 5 mm
• Dátum vydania: 01. November 2012

Obľúbené z iného súdka

---

---

---