Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 265 bodov

Anotácia knihy

Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Celý názov: Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
• Autor: Eugene R. Hnatek
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Pevná
• Počet strán: 180
• EAN: 9780442006433
• ISBN: 0442006438
• ID: 01387470
• Nakladateľ: Springer, Berlin
• Hmotnosť: 454 g
• Rozmery: 229 × 152 × 14 mm
• Rok vydania: 1993

---

---

---