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Viac informácií o knihe Dispositivo de alineación de muestras para un difractómetro de rayos x

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Anotácia knihy

Este proyecto está enfocado en mejorar los análisis de difracción de rayos X de los diferentes tamańos de muestras de materiales, a través del diseńo y la fabricación de un dispositivo mecánico que controla la posición de la probeta, logrando una orientación precisa con respecto al haz de rayos X, esto beneficia al sector industrial en el desarrollo de nuevos proyectos con materiales al mejorar el desempeńo de los mismos. El dispositivo requiere de la integración de distintos elementos mecánicos y electrónicos adicional a conocimientos en el área de control y programación para lograr su correcto funcionamiento, con un alto grado de precisión necesario para garantizar la posición de la muestra, a partir del diseńo y la buena elección de los materiales en la fabricación.

Parametre knihy

• Celý názov: Dispositivo de alineación de muestras para un difractómetro de rayos x
• Autor: Daniel Santiago Jiménez Novoa, Sebastian González
• Jazyk: Španielčina
• Väzba: Brožovaná
• Počet strán: 68
• EAN: 9783639538571
• ID: 16338348
• Nakladateľ: Editorial Académica Española
• Hmotnosť: 119 g
• Rozmery: 220 × 150 × 4 mm
• Rok vydania: 2017

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