Electromigration and Electronic Device Degradation / Najlacnejšie knihy
Electromigration and Electronic Device Degradation

Kód: 04892340

Electromigration and Electronic Device Degradation

Autor Christou

Electromigration is a mass transport effect in metals under high current densities, which causes the metal atoms to migrate away from a high current density point and leads to the failure of integrated circuits. It is therefore an ... celý popis

253.85

Bežne: 282.10 €

Ušetríte 28.25 €


Skladom u dodávateľa
Odosielame za 10 - 18 dní
Pridať medzi želanie

Mohlo by sa vám tiež páčiť

Darujte túto knihu ešte dnes
  1. Objednajte knihu a vyberte Zaslať ako darček.
  2. Obratom obdržíte darovací poukaz na knihu, ktorý môžete ihneď odovzdať obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nič sa nestaráte.

Viac informácií

Viac informácií o knihe Electromigration and Electronic Device Degradation

Nákupom získate 614 bodov

Anotácia knihy

Electromigration is a mass transport effect in metals under high current densities, which causes the metal atoms to migrate away from a high current density point and leads to the failure of integrated circuits. It is therefore an important reliability issue. This study reviews the topic for both the silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details, including an investigation of temperature dependence.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Mechanical engineering & materials Production engineering

253.85

Obľúbené z iného súdka



Osobný odber Bratislava a 12744 dalších

Copyright ©2008-26 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies


Môj účet: Prihlásiť sa
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupný košík ( prázdny )

Vyzdvihnutie v Zásielkovni
zadarmo nad 59,99 €.

Nachádzate sa: