Kód: 02059896

High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183

Name: High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183
Brand: Cambridge University Press
SKU: 02059896
Price: 56.75 EUR
Availability: BackOrder

Autor Robert SinclairDavid J. SmithUlrich Dahmen

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Jazyk: Angličtina
Väzba: Pevná
Počet strán: 420
Nakladateľ: Cambridge University Press, 1990
Viac informácií o knihe

56.75 €

Dostupnosť:

50 % šanca

Máme informáciu, že by titul mohol byť dostupný. Na základe vašej objednávky sa ho pokúsime do 6 týždňov zabezpečiť.
Prehľadáme celý svet

Informovať o naskladnení

Pridať medzi želanie

Mohlo by sa vám tiež páčiť

Advances in Multimedia Information Processing - PCM 2005
137.16 €
Kúpiť
Modeling Spatial and Economic Impacts of Disasters
210.92 €
Kúpiť
Discourses on Satire and on Epic Poetry
52.52 €
Kúpiť
Secondary Structure Prediction of Amino Acids Using GOR Method
54.03 €
Kúpiť
Beyond A2+ Student's Book Premium Pack
35.82 € -3 %
Kúpiť
Geschichte Der Bildenden Kunste Im 19. Jahrhundert
66.21 €
Kúpiť
30 Minuten Selbstbehauptung
10.96 € -5 %
Kúpiť

Darčekový poukaz: Radosť zaručená

Darujte poukaz v ľubovoľnej hodnote, a my sa postaráme o zvyšok.
Poukaz sa vzťahuje na všetky produkty v našej ponuke.
Elektronický poukaz si vytlačíte z e-mailu a môžete ho ihneď darovať.
Platnosť poukazu je 12 mesiacov od dátumu vystavenia.

Objednať darčekový poukaz Viac informácií

Informovať o naskladnení knihy

Zašleme vám správu akonáhle knihu naskladníme

Zadajte do formulára e-mailovú adresu a akonáhle knihu naskladníme, zašleme vám o tom správu. Postrážime všetko za vás.

Viac informácií o knihe High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183

Parametre knihy
Anotácia kniha
Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 143 bodov

Anotácia knihy

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Mathematics & science Science: general issues Scientific equipment, experiments & techniques

56.75 €

Celý názov: High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183
Autor: Robert SinclairDavid J. SmithUlrich Dahmen
Jazyk: Angličtina
Väzba: Pevná
Počet strán: 420
EAN: 9781558990722
ISBN: 1558990720
ID: 02059896
Nakladateľ: Cambridge University Press
Hmotnosť: 730 g
Rozmery: 229 × 152 × 24 mm
Dátum vydania: 10. August 1990