MOS Interface Physics, Process and Characterization / Najlacnejšie knihy
MOS Interface Physics, Process and Characterization

Kód: 44702474

MOS Interface Physics, Process and Characterization

Autor Shengkai Wang, Xiaolei Wang

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental exampl ... celý popis

68.91


Skladom u dodávateľa
Odosielame za 9 - 15 dní
Pridať medzi želanie

Mohlo by sa vám tiež páčiť

Darujte túto knihu ešte dnes
  1. Objednajte knihu a vyberte Zaslať ako darček.
  2. Obratom obdržíte darovací poukaz na knihu, ktorý môžete ihneď odovzdať obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nič sa nestaráte.

Viac informácií

Viac informácií o knihe MOS Interface Physics, Process and Characterization

Nákupom získate 167 bodov

Anotácia knihy

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.

Parametre knihy

68.91

Obľúbené z iného súdka



Osobný odber Bratislava a 12820 dalších

Copyright ©2008-26 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies


Môj účet: Prihlásiť sa
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupný košík ( prázdny )

Vyzdvihnutie v Zásielkovni
zadarmo nad 59,99 €.

Nachádzate sa: