Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Nanometer Technology Designs

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 345 bodov

Anotácia knihy

Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges. This book discusses these challenges in detail and proposes new techniques and methodologies to improve the overall quality of the transition fault test.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Celý názov: Nanometer Technology Designs
• Podnázov: High-Quality Delay Tests
• Autor: Nisar Ahmed
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Brožovaná
• Počet strán: 281
• EAN: 9781441945594
• ISBN: 1441945598
• ID: 01423022
• Nakladateľ: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnosť: 462 g
• Rozmery: 235 × 155 × 15 mm
• Dátum vydania: 14. December 2011

Obľúbené z iného súdka

---

---

---