Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 273 bodov

Anotácia knihy

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Celý názov: Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
• Autor: Ruijing Shen, Sheldon X.-D. Tan, Hao Yu
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Brožovaná
• Počet strán: 306
• EAN: 9781489987877
• ISBN: 1489987878
• ID: 02597387
• Nakladateľ: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnosť: 516 g
• Rozmery: 17 × 155 × 18 mm
• Dátum vydania: 13. April 2014

Obľúbené z iného súdka

---

---

---