Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 330 punkty

Opis

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.

Szczegóły książki

Kategoria Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Pełny tytuł: Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
• Autor: Ruijing Shen, Sheldon X.-D. Tan, Hao Yu
• Język: Angielski
• Oprawa: Miękka
• Liczba stron: 306
• EAN: 9781489987877
• ISBN: 1489987878
• ID: 02597387
• Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.
• Waga: 516 g
• Wymiary: 17 × 155 × 18 mm
• Data wydania: 13. April 2014

Ulubione w innej kategorii

---

---

---