The Certification of 100 mm Diameter Silicon Resistivity SRMs 2531 Through 2547 Using Dual-Configuration Four-Point Probe Measurement, 2006 Edition / Najlacnejšie knihy
The Certification of 100 mm Diameter Silicon Resistivity SRMs 2531 Through 2547 Using Dual-Configuration Four-Point Probe Measurement, 2006 Edition

Kód: 17214632

The Certification of 100 mm Diameter Silicon Resistivity SRMs 2531 Through 2547 Using Dual-Configuration Four-Point Probe Measurement, 2006 Edition

Autor Department of Commerce

This Special Publication summarizes the certification procedure for a new generation of silicon resistivity Standard Reference Materials 2541 through 2547.

19.60


Skladom u dodávateľa
Odosielame za 14 - 18 dní
Pridať medzi želanie

Mohlo by sa vám tiež páčiť

Darujte túto knihu ešte dnes
  1. Objednajte knihu a vyberte Zaslať ako darček.
  2. Obratom obdržíte darovací poukaz na knihu, ktorý môžete ihneď odovzdať obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nič sa nestaráte.

Viac informácií

Viac informácií o knihe The Certification of 100 mm Diameter Silicon Resistivity SRMs 2531 Through 2547 Using Dual-Configuration Four-Point Probe Measurement, 2006 Edition

Nákupom získate 48 bodov

Anotácia knihy

This Special Publication summarizes the certification procedure for a new generation of silicon resistivity Standard Reference Materials 2541 through 2547.

Parametre knihy

19.60

Obľúbené z iného súdka



Osobný odber Bratislava a 2642 dalších

Copyright ©2008-24 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies


Môj účet: Prihlásiť sa
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupný košík ( prázdny )

Vyzdvihnutie v Zásielkovni
zadarmo nad 59,99 €.

Nachádzate sa: