The Practice of Tof-Sims: Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry / Najlacnejšie knihy
The Practice of Tof-Sims: Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Kód: 12371627

The Practice of Tof-Sims: Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Autor Alan M. Spool

Time of flight secondary ion mass spectrometry, TOF-SIMS, is a highly surface sensitive analytical technique that provides information about composition with submicron lateral resolution. For select materials, TOF-SIMS provides un ... celý popis

77.65

Bežne: 80.92 €

Ušetríte 3.27 €


Skladom u dodávateľa
Odosielame za 14 - 18 dní
Pridať medzi želanie

Mohlo by sa vám tiež páčiť

Darujte túto knihu ešte dnes
  1. Objednajte knihu a vyberte Zaslať ako darček.
  2. Obratom obdržíte darovací poukaz na knihu, ktorý môžete ihneď odovzdať obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nič sa nestaráte.

Viac informácií

Viac informácií o knihe The Practice of Tof-Sims: Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Nákupom získate 192 bodov

Anotácia knihy

Time of flight secondary ion mass spectrometry, TOF-SIMS, is a highly surface sensitive analytical technique that provides information about composition with submicron lateral resolution. For select materials, TOF-SIMS provides unparalleled sensitivity alo

Parametre knihy

77.65

Obľúbené z iného súdka



Osobný odber Bratislava a 2642 dalších

Copyright ©2008-24 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies


Môj účet: Prihlásiť sa
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupný košík ( prázdny )

Vyzdvihnutie v Zásielkovni
zadarmo nad 59,99 €.

Nachádzate sa: