Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 345 bodov

Anotácia knihy

This book surveys state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits, discusses key challenges in post-silicon validation and offers automated solutions that are systematic and cost-effective.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Celý názov: Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
• Autor: Xiao Liu, Qiang Xu
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Brožovaná
• Počet strán: 108
• EAN: 9783319375946
• ISBN: 3319375946
• ID: 13787232
• Nakladateľ: Springer International Publishing AG
• Hmotnosť: 273 g
• Rozmery: 235 × 155 × 7 mm
• Dátum vydania: 23. August 2016

Obľúbené z iného súdka

---

---

---