Kód: 06671236
Atomic Force Microscopy (AFM) measures the forces between a tip and the substrate and maps the substrate surface topography and properties based on the measurement of tip-substrate interactions. This volume contains the papers on ... celý popis
Angličtina
472.98 €
Dostupnosť:
50 % šanca
Máme informáciu, že by titul mohol byť dostupný. Na základe vašej objednávky sa ho pokúsime do 6 týždňov zabezpečiť.
Zadajte do formulára e-mailovú adresu a akonáhle knihu naskladníme, zašleme vám o tom správu. Postrážime všetko za vás.
Nákupom získate 1143 bodov
Anotácia knihy
Atomic Force Microscopy (AFM) measures the forces between a tip and the substrate and maps the substrate surface topography and properties based on the measurement of tip-substrate interactions. This volume contains the papers on AFM techniques.
Parametre knihy
Zaradenie knihy Knihy po anglicky Mathematics & science Science: general issues Scientific equipment, experiments & techniques
472.98 €
Angličtina
Osobný odber Bratislava a 12840 dalších
Copyright ©2008-26 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies
24 miliónov titulov
Vrátenie do mesiaca
02/210 210 99 (8-15.30h)Nákupný košík ( prázdny )