Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Nanometer Variation-Tolerant SRAM

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 345 bodov

Anotácia knihy

This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.§

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Celý názov: Nanometer Variation-Tolerant SRAM
• Podnázov: Circuits and Statistical Design for Yield
• Autor: Mohamed Abu-Rahma, Mohab Anis
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Brožovaná
• Počet strán: 172
• EAN: 9781493902200
• ISBN: 1493902202
• ID: 09038126
• Nakladateľ: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnosť: 2934 g
• Rozmery: 235 × 155 × 10 mm
• Dátum vydania: 15. October 2014

Obľúbené z iného súdka

---

---

---