Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 304 bodov

Anotácia knihy

This book lays the groundwork for further use of Electron Spin Echo Envelop Modulation (ESEEM) and opens the possibility of highly precise chemical fingerprinting. It reveals an astonishingly long memory of spin coherence in semiconductor particles.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Celý názov: Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance
• Autor: Kipp van Schooten
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Brožovaná
• Počet strán: 90
• EAN: 9783319033280
• ISBN: 331903328X
• ID: 02823763
• Nakladateľ: Springer International Publishing AG
• Hmotnosť: 1708 g
• Rozmery: 6 × 155 × 7 mm
• Dátum vydania: 14. April 2014

Obľúbené z iného súdka

---

---

---