Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 107 bodov

Anotácia knihy

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum Im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert behandelt.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Celý názov: Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
• Podnázov: Simulation mit PSPICE
• Autor: Peter Baumann
• Jazyk: Nemčina
• Väzba: Brožovaná
• EAN: 9783658409562
• ID: 42904089
• Nakladateľ: Springer, Berlin
• Rozmery: 240 × 168 mm
• Dátum vydania: 11. September 2023

Obľúbené z iného súdka

---

---

---