Mohlo by sa vám tiež páčiť

Viac informácií o knihe Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 406 bodov

Anotácia knihy

Discusses automatic testing, diagnosis and tuning of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits and systems in a single source. This book covers a range of circuit components. It is suitable for researchers and engineers in mixed-signal testing.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Celý názov: Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits
• Podnázov: The System on Chip Approach
• Autor: Yichuang Sun
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Brožovaná
• Počet strán: 408
• EAN: 9780863417450
• ISBN: 9780863417450
• ID: 06476054
• Nakladateľ: Institution of Engineering and Technology
• Hmotnosť: 626 g
• Rozmery: 232 × 159 × 23 mm
• Dátum vydania: 01. May 2008

Obľúbené z iného súdka

---

---

---