Mohlo by sa vám tiež páčiť

Informovať o naskladnení knihy

Viac informácií o knihe X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 610 bodov

Anotácia knihy

Emphasizes on practical metrology, with real world examples from the semiconductor and magnetics industries. This book discusses the techniques, theory, and applications of X-ray metrology in semiconductors and other advanced thin films. It covers the essential metrological questions of precision and repeatability, absolute accuracy and spot size.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Technology: general issues Instruments & instrumentation engineering

• Celý názov: X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
• Autor: Brian K. Tanner
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Pevná
• Počet strán: 296
• EAN: 9780849339288
• ISBN: 9780849339288
• ID: 06734771
• Nakladateľ: Taylor & Francis Inc
• Hmotnosť: 586 g
• Rozmery: 245 × 162 × 21 mm
• Dátum vydania: 24. January 2006

Obľúbené z iného súdka

---

---

---