Kód: 01391053

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics

Name: Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
Brand: Springer, Berlin
SKU: 01391053
Price: 155.16 EUR
Availability: BackOrder

Autor David G. Seiler, Alain C. Diebold, Robert McDonald

Jazyk: Angličtina
Väzba: Pevná
Počet strán: 578
Nakladateľ: Springer, Berlin, 2007
Viac informácií o knihe

155.16 €

Bežne: 155.20 €

Ušetríte 0.04 €

Dostupnosť:

50 % šanca

Máme informáciu, že by titul mohol byť dostupný. Na základe vašej objednávky sa ho pokúsime do 6 týždňov zabezpečiť.
Prehľadáme celý svet

Informovať o naskladnení

Pridať medzi želanie

Mohlo by sa vám tiež páčiť

Candide
26.38 €
Kúpiť
Viaz'ma Catastrophe, 1941
73.06 € -13 %
Kúpiť
Hopkins Touch
37.23 € -3 %
Kúpiť
Garden of One's Own
40.68 €
Kúpiť
Microtia and Atresia - Combined Approach by Plastic and Otologic Surgery
207.83 €
Kúpiť
Lives of the Most Eminent Painters Sculptors and Architects Vol. 03 (of 10), Filarete and Simone to Mantegna
41.09 €
Kúpiť
Příšerný večírek
2.73 € -5 %
Kúpiť

Darujte túto knihu ešte dnes

Objednajte knihu a vyberte Zaslať ako darček.
Obratom obdržíte darovací poukaz na knihu, ktorý môžete ihneď odovzdať obdarovanému.
Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nič sa nestaráte.

Viac informácií

Informovať o naskladnení knihy

Zašleme vám správu akonáhle knihu naskladníme

Zadajte do formulára e-mailovú adresu a akonáhle knihu naskladníme, zašleme vám o tom správu. Postrážime všetko za vás.

Viac informácií o knihe Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics

Parametre knihy
Anotácia kniha
Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 387 bodov

Anotácia knihy

This book contains peer-reviewed papers presented at the 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology. It emphasizes the frontiers of innovation in the characterization and metrology needed to advance nanoelectronics. It provides an effective portrayal of the industry s characterization and metrology needs and how they are being addressed. It also offers a foundation for further advances in metrology and new ideas for research and development.

Parametre knihy

155.16 €

Celý názov: Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
Podnázov: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
Autor: David G. Seiler, Alain C. Diebold, Robert McDonald
Jazyk: Angličtina
Väzba: Pevná
Počet strán: 578
EAN: 9780735404410
ID: 01391053
Nakladateľ: Springer, Berlin
Hmotnosť: 1586 g
Rozmery: 279 × 216 × 41 mm
Rok vydania: 2007