Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588 / Najlacnejšie knihy
Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

Kód: 02060226

Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

Autor M. Selim Javier PiquerasNader M. KalkhoranTakashi Sekiguchi

The last decades of the 1900s have witnessed a significant development in materials research, accompanied by rapidly shrinking device sizes and a strong desire to understand semiconductors at a microscopic level. Driven by the tec ... celý popis

55.64

Dostupnosť:

50 % šancaMáme informáciu, že by titul mohol byť dostupný. Na základe vašej objednávky sa ho pokúsime do 6 týždňov zabezpečiť.
Prehľadáme celý svet

Informovať o naskladnení

Pridať medzi želanie

Mohlo by sa vám tiež páčiť

Darujte túto knihu ešte dnes
  1. Objednajte knihu a vyberte Zaslať ako darček.
  2. Obratom obdržíte darovací poukaz na knihu, ktorý môžete ihneď odovzdať obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nič sa nestaráte.

Viac informácií

Informovať o naskladnení knihy

Informovať o naskladnení knihy


Súhlas - Odoslaním žiadosti vyjadrujem Súhlas so spracovaním osobných údajov na marketingové účely.

Zašleme vám správu akonáhle knihu naskladníme

Zadajte do formulára e-mailovú adresu a akonáhle knihu naskladníme, zašleme vám o tom správu. Postrážime všetko za vás.

Viac informácií o knihe Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588

Nákupom získate 138 bodov

Anotácia knihy

The last decades of the 1900s have witnessed a significant development in materials research, accompanied by rapidly shrinking device sizes and a strong desire to understand semiconductors at a microscopic level. Driven by the technological demand for high-performance devices and new materials, scientists have developed new optical techniques to study semi-conductors at microscopic scales. Both linear and nonlinear optical processes have been utilized to shed light on physical phenomena related to the microstructural properties of semiconductors. Photoluminescence, cathodoluminescence and Raman spectroscopy techniques have been combined with state-of-the-art microscopy to provide detailed information on microstructural properties. For better than diffraction-limited resolution, scanning probe and near-field optical microscopies have been developed, providing ultrahigh-resolution characterization capability to observe otherwise inaccessible information. This book brings together researchers to review the recent progress in optical microstructural characterization of semiconductors and to, hopefully, stimulate future interest in this area of research. Topics include: near-field techniques; photo-electrical and resonance techniques; luminescence; Raman spectroscopy and optical properties.

Parametre knihy

Zaradenie knihy Knihy po anglicky Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

55.64

Obľúbené z iného súdka



Osobný odber Bratislava a 2642 dalších

Copyright ©2008-24 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies


Môj účet: Prihlásiť sa
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupný košík ( prázdny )

Vyzdvihnutie v Zásielkovni
zadarmo nad 59,99 €.

Nachádzate sa: